在X荧光分析中，将物料进一步磨细的目的是（）。A、消除颗粒效应B、便于压片C、消除元素效应

题目

在X荧光分析中，将物料进一步磨细的目的是（）。

  • A、消除颗粒效应
  • B、便于压片
  • C、消除元素效应
相似考题

1.对负的外部效应的矫正，目的在于（）A.消除负的外部效应B.惩罚外部效应的施加者C.补偿外部效应的承受者D.将外部效应减少到可容忍的程度

2.简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。

3.不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是（）。A、增加灯电流B、选用其他的荧光分析线C、加入络合剂络合干扰元素D、预先化学分离干扰元素

4.有关部分容积效应的叙述中，错误的是（）A、会遗漏小病变B、可产生假像C、改变选层位置可消除此效应D、增加扫描层厚可消除此效应E、对可疑部位边缘作垂直方向扫描可消除此效应

更多“在X荧光分析中，将物料进一步磨细的目的是（）。A、消除颗粒效应B、便于压片C、消除元素效应”相关问题

  • 第1题：

    不影响X荧光分析的主要因素有（）。

    • A、粒度效应
    • B、矿物效应
    • C、基体效应
    • D、光电效应

    正确答案:C

  • 第2题：

    在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。

    • A、均匀性
    • B、粒度效应
    • C、辐射
    • D、吸收-增强效应

    正确答案:B,D

  • 第3题：

    X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。


    正确答案:错误

  • 第4题：

    在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。


    正确答案:正确

  • 第5题：

    X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应（）。

    • A、内标法
    • B、数学校正法
    • C、滤波
    • D、稀释法

    正确答案:C

  • 第6题：

    简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？


    正确答案: 在X射线荧光光谱分析中，分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。基体效应包括吸收和增强两种效应。
    消除基体效应的方法有稀释法、薄膜样品法、吸收校正法、数学处理方法等。

  • 第7题：

    X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。

    • A、粒度效应
    • B、矿物效应
    • C、酸度变化

    正确答案:A,B

  • 第8题：

    什么是Donnan效应？如何消除Donnan效应？


    正确答案:由于大分子离子的存在引起小分子离子在膜内外分布不均的现象称为唐南效应。消除方法：在膜外加入足够量的小分子电解质。

  • 第9题：

    用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？


    正确答案:（1）内标物中的元素与被测元素的激发X射线波长相近。即内标物元素的原子序数应与被测元素相近。
    （2）基体对二者的X射线荧光吸收相近，即基体效应可相互抵消。
    （3）原样品中一定不能含有明显数量级的内标元素。

  • 第10题：

    问答题
    为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应，除了内标法和标准加入法外，还有哪几种方法？

    正确答案： 比较标准法、薄膜法和稀释法
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    在X荧光分析中，将物料进一步磨细的目的是（）。
    A

    消除颗粒效应

    B

    便于压片

    C

    消除元素效应


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是（）。
    A

    增加灯电流

    B

    选用其他的荧光分析线

    C

    加入络合剂络合干扰元素

    D

    预先化学分离干扰元素


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。

    • A、气体
    • B、惰性
    • C、分析
    • D、氧化性

    正确答案:C

  • 第14题：

    不能消除原子荧光光谱中干扰光谱线的方法是：（）

    • A、增加灯电流
    • B、选择其他荧光分析线
    • C、加入络合剂络合干扰元素
    • D、预先化学分离干扰元素

    正确答案:A

  • 第15题：

    X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。

    • A、粒度效应
    • B、吸收
    • C、增强
    • D、矿物效应

    正确答案:A,D

  • 第16题：

    在X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应（）。

    • A、内标法
    • B、数学校正法
    • C、滤波
    • D、稀释法

    正确答案:C

  • 第17题：

    影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的（）、（）两类。


    正确答案:吸收增强效应，物理化学效应

  • 第18题：

    粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。

    • A、100目
    • B、120目
    • C、150目
    • D、180目

    正确答案:D

  • 第19题：

    对负的外部效应的矫正，目的在于（）

    • A、消除负的外部效应
    • B、惩罚外部效应的施加者
    • C、补偿外部效应的承受者
    • D、将外部效应减少到可容忍的程度

    正确答案:D

  • 第20题：

    X线成像相关的特性中，"X线能激发荧光物质，并转换成可见的荧光"属于（）

    • A、X线
    • B、荧光效应
    • C、感光效应
    • D、电离效应
    • E、X线的衰减

    正确答案:B

  • 第21题：

    问答题
    简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。

    正确答案： 基体：就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
    造成这一现象的原因主要有：
    吸收—增强效应，在复杂的样品中，元素间的相互影响，引起IK的变化；
    非均匀效应，该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等；
    表面效应，由于表面不平整，大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
    克服或校正基体效应—忽略基体效应
    基体匹配法：使用与未知样基体组成相似的标准样品，常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性（或二次曲线）
    薄试样法：当试样的厚度仅为几百或几千埃时，其基体效应可以忽略
    克服或校正基体效应—减小基体效应
    使用稀释剂将样品进行高倍稀释和（或）添加重吸收剂，使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
    克服或校正基体效应—补偿基体效应
    内标法：在试样内加入已知量的内标元素，该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似；在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征谱线存在。
    标准加入法：在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化；常用于复杂试样中单个元素的测定。
    散射比法：试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似，也就是说，它们的强度比与试样无关；所选的散射线可以是：X光管靶材的相干和非相干散射线，试样对原级谱的连续谱的散射（即背景）；所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线，所选散射线有足够的强度。
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    有关部分容积效应的叙述中，错误的是（）
    A

    会遗漏小病变

    B

    可产生假像

    C

    改变选层位置可消除此效应

    D

    增加扫描层厚可消除此效应

    E

    对可疑部位边缘作垂直方向扫描可消除此效应


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    问答题
    用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？

    正确答案： （1）内标物中的元素与被测元素的激发X射线波长相近。即内标物元素的原子序数应与被测元素相近。
    （2）基体对二者的X射线荧光吸收相近，即基体效应可相互抵消。
    （3）原样品中一定不能含有明显数量级的内标元素。
    解析： 暂无解析

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