在相同条件下,用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。
第1题:
采用QS1交流电桥在现场测量设备的tgδ时,若试品的电容量较小,测量中出现负值,一定是存在着电场干扰。
第2题:
适用QSI型西林电桥测量试品tg∮,接通或断开电源时,检流计灵敏度应在中间位置。
第3题:
现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。
第4题:
试品绝缘表面脏污、受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,描述正确的是()。
第5题:
用QS1型西林电桥测量介损时,怎样选择分流器位置?若被试品电容量约为4000pF(U=10kV)分流器应在何位置?
第6题:
用QS1型西林电桥测tgδ时的操作要点具体有哪些?
第7题:
用QS1型西林电桥测tgδ,消除电场干扰的方法有哪些?
第8题:
变压器采用QS1型交流电桥反接线测量线圈绕组tgδ时,对于三线圈变压器试写出被试线圈及相应的接地部位。
第9题:
对
错
第10题:
0.01
0.025
0.06
0.15
第11题:
第12题:
对
错
第13题:
QS1电桥内有一套低压电源和低压标准电容器,可测量电容量为300PF~100μF的试品。
第14题:
在QS1型西林电桥测量操作中,若分流器档位设置电流值较大于试品实际电流值,则电桥的调节值需趋向最高值,电桥R3才能趋向平衡。
第15题:
为什么用QS1型西林电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用正接线好?
第16题:
在相同条件下,用QSI型西林电桥测量小电容试品的tgδT和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。
第17题:
用QS1电桥测量110kV套管介损tgδ值时,试验电压为10kV,标准电容CN为50pF;电桥平衡时,R3=345Ω,试计算Cx之值。(R4为定值3184Ω)
第18题:
在现场相同条件下(好天气),用介损仪测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方法测量结果是完全相同的。
第19题:
测量tgδ时,为何要选择QS1电桥的分流位置?
第20题:
用QS1型西林电桥测tgδ时的操作要点有哪些?
第21题:
对
错
第22题:
对
错
第23题:
0.01
0.025
0.06
0.15