EDI为了得到较高电阻率和较低二氧化硅含量的产品水，产品水流量应该在给定范围的上限。

第1题：

进水压力低将导致EDI产品水流量低。

A对

B错

第2题：

为避免EDI组件浓水中离子过度积累，需要将部分浓水排放。排放量为纯水流量10～20％，排放掉的浓水由EDI产品水补充。

A对

B错

第3题：

EDI组件实际运行电流低于规定值，可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。

第4题：

为避免EDI组件浓水中离子过度积累，需要将部分浓水排放。排放量为纯水流量10～20％，排放掉的浓水由EDI产品水补充。

第5题：

变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除，使产品水的电阻率降低。

第6题：

EDI组件实际运行（）规定值，可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。

• A、电流低于
• B、电流高于
• C、压力低于
• D、压力高于

第7题：

进水压力低将导致EDI产品水流量低。

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除，使产品水的电阻率降低。

A对

B错

第14题：

为了保证EDI组件内部泄漏不影响纯水水质，产品水出口压力应当比浓水和极水出口压力高。

A对

B错

第15题：

精矿经选别后得到的有用矿物含量较高的最终产品。

第16题：

EDI为了得到较高电阻率和较低二氧化硅含量的产品水，浓水流量应为给定范围的下限。

第17题：

为了保证EDI组件内部泄漏不影响纯水水质，产品水出口压力应当比浓水和极水出口压力高。

第18题：

变价金属离子对EDI组件的影响是（）。

• A、引起离子交换树脂中毒
• B、对离子交换树脂氧化催化作用，会造成树脂的永久损伤
• C、引起离子极化现象使产品水的电阻率降低
• D、离子不能被完全清除，使产品水的电阻率降低

第19题：

EDI组件给水二氧化碳含量和pH值将明显影响产品水电阻率。

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：