工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A、影像重叠B、影像畸变C、影像放大D、以上都有可能

题目

工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）

  • A、影像重叠
  • B、影像畸变
  • C、影像放大
  • D、以上都有可能
相似考题

1.试样中靠近射线源侧的缺陷影像,在()情况下其清晰度不好A、射线源到物体距离增大B、试样厚度增大C、焦点尺寸减小D、试样厚度减小

2.缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比。

3.工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时，在底片上的影像最清晰。

4.射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。

更多“工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）A、影像重叠B、影像畸变C、影像放大D、以上都有可能”相关问题

  • 第1题：

    射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从缺陷影像的几何形状、（）和位置进行综合分析。

    • A、长度
    • B、厚度
    • C、大小
    • D、黑度分布

    正确答案:D

  • 第2题：

    在射线底片上，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是（）

    • A、射源尺寸
    • B、射源到缺陷的距离
    • C、缺陷到胶片的距离
    • D、缺陷相对于射源和胶片的位置和方向

    正确答案:D

  • 第3题：

    射线照像影像会放大，下面叙述中正确的是（）

    • A、射源至试件距离越远，影像放大得越大
    • B、射源至试件的距离与试件至底片距离之比越大，影像放大得越大
    • C、射源至试件的距离与试件至底片距离之比越小，影像放大得越大
    • D、射源至试件的距离与影像放大无关

    正确答案:C

  • 第4题：

    在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）

    • A、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大
    • B、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大
    • C、其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小
    • D、其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小

    正确答案:D

  • 第5题：

    关于影像放大的以下说法错误的是（）

    • A、影像放大是指在胶片上形成的影像的尺寸大于形成影像的物体的尺寸
    • B、影像放大与射线源尺寸无关
    • C、影像放大的程度与射线源至被透照物体的距离有关
    • D、影像放大的程度与影像所表示的物体和胶片的距离有关

    正确答案:B

  • 第6题：

    射线照像是以射线穿透试件而投影在底片上的，因此影像轮廓会（）

    • A、放大
    • B、变形
    • C、模糊
    • D、以上都对

    正确答案:D

  • 第7题：

    射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从（）黑度分布和位置进行综合分析。

    • A、缺陷影像的几何形状
    • B、缺陷影像的厚度
    • C、缺陷影像的大小
    • D、缺陷影像的长度

    正确答案:A

  • 第8题：

    单选题
    试样中靠近射线源侧的缺陷影像，在（）情况下其清晰度不好
    A

    射线源到物体距离增大

    B

    试样厚度增大

    C

    焦点尺寸减小

    D

    试样厚度减小


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    关于影像放大的以下说法错误的是（）
    A

    影像放大是指在胶片上形成的影像的尺寸大于形成影像的物体的尺寸

    B

    影像放大与射线源尺寸无关

    C

    影像放大的程度与射线源至被透照物体的距离有关

    D

    影像放大的程度与影像所表示的物体和胶片的距离有关


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    射线照像是以射线穿透试件而投影在底片上的，因此影像轮廓会（）
    A

    放大

    B

    变形

    C

    模糊

    D

    以上都对


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。
    A

    垂直

    B

    平行

    C

    倾斜45°

    D

    都可以


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）
    A

    胶片粒度

    B

    底片上缺陷影像的不清晰度

    C

    底片上缺陷影像的对比度

    D

    以上都是


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）

    • A、胶片粒度
    • B、底片上缺陷影像的不清晰度
    • C、底片上缺陷影像的对比度
    • D、以上都是

    正确答案:D

  • 第14题：

    工件中缺陷的取向与X射线入射方向（）时，在底片上能获得最清晰的缺陷影像。

    • A、垂直
    • B、平行
    • C、倾斜45°
    • D、都可以

    正确答案:B

  • 第15题：

    射线穿透物体在胶片上成像时会产生（）

    • A、影像重叠
    • B、影像放大
    • C、影像畸变
    • D、以上都是

    正确答案:D

  • 第16题：

    射线探伤时，使用透度计的主要目的是（）

    • A、测量缺陷大小
    • B、测量底片黑度
    • C、测量几何不清晰度
    • D、衡量透照底片的影像质量

    正确答案:D

  • 第17题：

    夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状


    正确答案:错误

  • 第18题：

    在射线探伤中，对一定的缺陷尺寸来说，当焦点尺寸增大时，影像放大率（），导致影像（）。


    正确答案:急剧增大；越难观察

  • 第19题：

    单选题
    射线穿透物体在胶片上成像时会产生（）
    A

    影像重叠

    B

    影像放大

    C

    影像畸变

    D

    以上都是


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    单选题
    工件射线透照时，靠近射线源侧的缺陷，在底片上所呈的影像可能会产生（）
    A

    影像重叠

    B

    影像畸变

    C

    影像放大

    D

    以上都有可能


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    在相同检测条件下，同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时，则（）
    A

    其影像放大得越大，而其几何不清晰度变大

    B

    其影像放大得越小，而其几何不清晰度变大

    C

    其影像放大得越大，而其几何不清晰度变小

    D

    其影像放大得越小，而其几何不清晰度变小


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    射线照像影像会放大，下面叙述中正确的是（）
    A

    射源至试件距离越远，影像放大得越大

    B

    射源至试件的距离与试件至底片距离之比越大，影像放大得越大

    C

    射源至试件的距离与试件至底片距离之比越小，影像放大得越大

    D

    射源至试件的距离与影像放大无关


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    填空题
    射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。

    正确答案： 平行
    解析： 暂无解析

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