下面哪条不是影响涡流线圈电感的因素？（）A、线圈直径；B、试验频率；C、线圈的形状；D、离其它线圈的距离.

题目

下面哪条不是影响涡流线圈电感的因素？（）

  • A、线圈直径；
  • B、试验频率；
  • C、线圈的形状；
  • D、离其它线圈的距离.
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1.当电涡流线圈靠近非磁性导体(铜)板材后,线圈的等效电感l()。A.增大B.不变C.减小

2.电涡流式传感器利用涡流效应将检测量的变化转换成线圈的()A、电阻变化B、电容变化C、涡流变化D、电感变化

3.如果交流接触器衔铁吸合不紧，工作气隙较大，将导致（）。A、铁心涡流增大B、线圈电感增大C、线圈电流增大D、以上都不是

4.当高频涡流传感器靠近铁磁物体时( )。A. 线圈的振荡频率增加B. 线圈电阻增大C. 线圈的电感增大D. 线圈的电阻减小

参考答案和解析
正确答案:B
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  • 第1题：

    当高频涡流传感器靠近铁磁物体时（）

    • A、线圈的振荡频率增加
    • B、线圈的电阻减小
    • C、线圈的电感增大
    • D、线圈的电感减小

    正确答案:D

  • 第2题：

    简述涡流效应并说出涡流传感器高频线圈的等效阻抗Z的影响因素。


    正确答案: 涡电流效应：金属板置于一个线圈附近，相互间距为δ，当线圈中有高频交变电流i通过时，产生交变磁通φ，此磁通通过邻近金属板，金属板表层产生感应电流，称为涡电流或涡流。
    涡流传感器的高频线圈等效阻抗与金属板的电阻率、磁导率、线圈的激磁频率及线圈与金属板的距离等有关。

  • 第3题：

    一个线圈电感的大小与线圈的（）、几何形状及线圈中的（）等因素有关。


    正确答案:匝数；介质

  • 第4题：

    下列哪一种情况下，涡流检测线圈的阻抗会增加？（）

    • A、检测频率增加
    • B、线圈感抗减少
    • C、线圈电感减少
    • D、线圈电阻减少

    正确答案:A

  • 第5题：

    涡流检测中，试验线圈阻抗增加是（）造成的。

    • A、频率增加
    • B、电阻增加
    • C、电流增加
    • D、电感增加

    正确答案:A

  • 第6题：

    当电涡流线圈靠近非磁性导体（铜）板材后，线圈的等效电感L（）。

    • A、不变
    • B、增大
    • C、减小
    • D、以上都可能

    正确答案:C

  • 第7题：

    当高频涡流传感器靠近铁磁物体时（）

    • A、线圈的振荡频率增加
    • B、线圈电阻增大
    • C、线圈的电感增大
    • D、线圈的电阻减小

    正确答案:C

  • 第8题：

    单选题
    在纯电感交流电路的电感线圈中会产生（）倍额定电流下长时间运行。
    A

    电磁感应

    B

    自感

    C

    互感

    D

    涡流


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    电感线圈电感的大小受下列哪个因素的影响（）
    A

    线径

    B

    线圈材料

    C

    线圈匝数

    D

    铁芯粗细


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    当高频涡流传感器靠近铁磁物体时（）
    A

     线圈的震荡频率增加  

    B

     线圈的电阻减小  

    C

     线圈的电感增大


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    涡流检测中，试验线圈阻抗增加是（）造成的。
    A

    频率增加

    B

    电阻增加

    C

    电流增加

    D

    电感增加


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    当高频涡流传感器靠近铁磁物体时（）
    A

    线圈的振荡频率增加

    B

    线圈电阻增大

    C

    线圈的电感增大

    D

    线圈的电阻减小


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    电感线圈电感的大小受下列哪个因素的影响（）

    • A、线径
    • B、线圈材料
    • C、线圈匝数
    • D、铁芯粗细

    正确答案:C

  • 第14题：

    如果交流接触器的衔铁吸合不紧，工作气隙较大将导致（）。

    • A、铁心涡流增大
    • B、线圈电感增大
    • C、线圈电压增大
    • D、线圈电流增大

    正确答案:D

  • 第15题：

    简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？


    正确答案:涡流检测时，影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμ
    相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。

  • 第16题：

    在纯电感交流电路的电感线圈中会产生（）倍额定电流下长时间运行。

    • A、电磁感应
    • B、自感
    • C、互感
    • D、涡流

    正确答案:B

  • 第17题：

    当高频涡流传感器靠近铁磁物体时（）。

    • A、线圈的震荡频率增加
    • B、线圈的电阻减小
    • C、线圈的电感增大

    正确答案:C

  • 第18题：

    涡流检测中，缺陷是通过改变涡流的分布及流动状态来影响检测线圈电参数的。


    正确答案:正确

  • 第19题：

    影响电感量的因素有（）

    • A、线圈直径
    • B、匝数
    • C、有无铁芯
    • D、频率

    正确答案:A,B,C

  • 第20题：

    问答题
    简述涡流效应并说出涡流传感器高频线圈的等效阻抗Z的影响因素。

    正确答案： 涡电流效应：金属板置于一个线圈附近，相互间距为δ，当线圈中有高频交变电流i通过时，产生交变磁通φ，此磁通通过邻近金属板，金属板表层产生感应电流，称为涡电流或涡流。
    涡流传感器的高频线圈等效阻抗与金属板的电阻率、磁导率、线圈的激磁频率及线圈与金属板的距离等有关。
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    下列哪一种情况下，涡流检测线圈的阻抗会增加？（）
    A

    检测频率增加

    B

    线圈感抗减少

    C

    线圈电感减少

    D

    线圈电阻减少


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    下面哪条不是影响涡流线圈电感的因素？（）
    A

    线圈直径；

    B

    试验频率；

    C

    线圈的形状；

    D

    离其它线圈的距离.


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    问答题
    简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？

    正确答案： 涡流检测时，影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμ
    相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。
    解析： 暂无解析

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