下列哪一种情况下,涡流检测线圈的阻抗会增加?()A、检测频率增加B、线圈感抗减少C、线圈电感减少D、线圈电阻减少

题目

下列哪一种情况下,涡流检测线圈的阻抗会增加?()

  • A、检测频率增加
  • B、线圈感抗减少
  • C、线圈电感减少
  • D、线圈电阻减少

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  • 第1题:

    当一铁磁性材料的工件放在涡流检测线圈中时,线圈的阻抗将被工件中哪一项参数所改变?()

    • A、电导率
    • B、尺寸
    • C、磁导率
    • D、上述三项

    正确答案:D

  • 第2题:

    简述涡流检测时,有哪些主要因素会影响线圈阻抗?


    正确答案:涡流检测时,影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来:1-η+μrμ
    相对磁导率;μeffeff式中:η--填充系数;μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有:电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率:如果电导率σ变,则特征频率fg变[fg=1/(2πμσα),α是试件半径],贝塞尔函数的变量变,有效磁导率变,试验线圈阻抗变。电导率的变化,在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率:非磁性材料,因为μr近似为1,所以对阻抗无影响;磁性材料,因为μr远大于1,所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸:试件几何尺寸通常以直径(或半径)描述。试件直径的变化,不仅影响有效磁导率(分析参见电导率分析),而且影响填充系数。因此,试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷:缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果,使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算,通常是借助于模型进行实验。试验频率:试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比f/fg上,由于有效磁导率是以频率比f/fg为参变量的,随着试验频率的不同,试验线圈在曲线上的位置发生改变。

  • 第3题:

    涡流检测是根据检测线圈的阻抗变化来检测试件的材质变化。


    正确答案:正确

  • 第4题:

    涡流检测中,检测线圈的平均直径是指检测线圈()之和的一半。


    正确答案:内径和外径

  • 第5题:

    下列()种情况下电感线圈的阻抗会降低。

    • A、检测频率降低
    • B、线圈电感降低
    • C、线圈电阻降低
    • D、上述三项都对

    正确答案:D

  • 第6题:

    电涡流效应中,线圈阻抗的变化与()有关。

    • A、线圈和金属板间距离;
    • B、被测物的材料;
    • C、涡流的大小;
    • D、线圈所通电流的大小

    正确答案:A

  • 第7题:

    电涡流传感器的探头线圈,与被测导体之间的距离,()。

    • A、很小时,电涡流效应显著,线圈阻抗减小
    • B、很大时,因电涡流减弱,线圈阻抗增大
    • C、超过一定数值后,线圈阻抗趋向一稳定值
    • D、在一定范围内,线圈阻抗呈线性变化

    正确答案:A,B,C

  • 第8题:

    判断题
    涡流检测是根据检测线圈的阻抗变化来检测试件的材质变化。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第9题:

    单选题
    下列哪一种情况下,涡流检测线圈的阻抗会增加?()
    A

    检测频率增加

    B

    线圈感抗减少

    C

    线圈电感减少

    D

    线圈电阻减少


    正确答案: C
    解析: 暂无解析

  • 第10题:

    单选题
    当一铁磁性材料的工件放在涡流检测线圈中时,线圈的阻抗将被工件中哪一项参数所改变?()
    A

    电导率

    B

    尺寸

    C

    磁导率

    D

    上述三项


    正确答案: C
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    单选题
    进行涡流检测时,根据下列()种参数的变化可检出试件表面缺陷?
    A

    检测线圈的阻抗

    B

    激励信号的频率

    C

    检测线圈的电压

    D

    A或C


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    问答题
    简述涡流检测时,有哪些主要因素会影响线圈阻抗?

    正确答案: 涡流检测时,影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来:1-η+μrμ
    相对磁导率;μeffeff式中:η--填充系数;μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有:电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率:如果电导率σ变,则特征频率fg变[fg=1/(2πμσα),α是试件半径],贝塞尔函数的变量变,有效磁导率变,试验线圈阻抗变。电导率的变化,在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率:非磁性材料,因为μr近似为1,所以对阻抗无影响;磁性材料,因为μr远大于1,所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸:试件几何尺寸通常以直径(或半径)描述。试件直径的变化,不仅影响有效磁导率(分析参见电导率分析),而且影响填充系数。因此,试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷:缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果,使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算,通常是借助于模型进行实验。试验频率:试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比f/fg上,由于有效磁导率是以频率比f/fg为参变量的,随着试验频率的不同,试验线圈在曲线上的位置发生改变。
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    涡流检测线圈必须具备的功能是()。

    • A、激励涡流和放大信号
    • B、检测并放大信号
    • C、激励涡流和检测信号
    • D、检测并处理信号

    正确答案:C

  • 第14题:

    当一非铁磁性材料的工件放在涡流检测线圈中时,线圈的阻抗会被工件中的()项参数所改变?

    • A、缺陷
    • B、电导率
    • C、尺寸
    • D、以上三项都可以

    正确答案:D

  • 第15题:

    涡流检测中,试验线圈阻抗增加是()造成的。

    • A、频率增加
    • B、电阻增加
    • C、电流增加
    • D、电感增加

    正确答案:A

  • 第16题:

    涡流式压力传感器利用涡流效应将位移的变化变换成线圈的()

    • A、电阻变化
    • B、电容变化
    • C、涡流变化
    • D、阻抗变化

    正确答案:D

  • 第17题:

    进行涡流检测时,根据下列()种参数的变化可检出试件表面缺陷?

    • A、检测线圈的阻抗
    • B、激励信号的频率
    • C、检测线圈的电压
    • D、A或C

    正确答案:D

  • 第18题:

    电涡流传感器产生的电涡流在周围产生一个电涡流磁场,其方向和原线圈磁场的方向相反,这两个磁场叠加,将改变原线圈的阻抗。


    正确答案:正确

  • 第19题:

    问答题
    简述涡流效应并说出涡流传感器高频线圈的等效阻抗Z的影响因素。

    正确答案: 涡电流效应:金属板置于一个线圈附近,相互间距为δ,当线圈中有高频交变电流i通过时,产生交变磁通φ,此磁通通过邻近金属板,金属板表层产生感应电流,称为涡电流或涡流。
    涡流传感器的高频线圈等效阻抗与金属板的电阻率、磁导率、线圈的激磁频率及线圈与金属板的距离等有关。
    解析: 暂无解析

  • 第20题:

    单选题
    涡流试验时,被检材料的变量可以作为哪一种变化量来检测?()
    A

    试验速度;

    B

    传感线圈的阻抗;

    C

    以上都不是;

    D

    以上都是.


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第21题:

    单选题
    下列哪一种方法不能用在涡流检测中?()
    A

    脉冲反射法

    B

    阻抗分析法

    C

    相位分析法

    D

    调制分析法


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第22题:

    单选题
    下列()种情况下电感线圈的阻抗会降低。
    A

    检测频率降低

    B

    线圈电感降低

    C

    线圈电阻降低

    D

    上述三项都对


    正确答案: A
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    单选题
    涡流检测中,试验线圈阻抗增加是()造成的。
    A

    频率增加

    B

    电阻增加

    C

    电流增加

    D

    电感增加


    正确答案: C
    解析: 暂无解析