简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？
题目
简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？
相似考题
参考答案和解析
正确答案:涡流检测时，影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμ
相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。
相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。
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第1题：
在额定电压下接触器中的铁芯不能闭合时励磁线圈会严重发热，原因是（）。
- A、磁阻增大，线圈阻抗减小
- B、磁动势增大、磁通增多
- C、磁阻增大涡流增大
- D、铁损增大，电流增大
正确答案:C -
第2题：
下列哪项会影响穿过式线圈的阻抗？（）
- A、线圈中试样的电导率
- B、线圈中试样的磁导率
- C、填充系数
- D、上述的三项
正确答案:D -
第3题：
影响涡流检测的三个主要因素是被检材料的（）、（）、（）。
正确答案:电导率；磁导率；几何形状 -
第4题：
涡流检测是根据检测线圈的阻抗变化来检测试件的材质变化。
正确答案:正确 -
第5题：
涡流式压力传感器利用涡流效应将位移的变化变换成线圈的（）
- A、电阻变化
- B、电容变化
- C、涡流变化
- D、阻抗变化
正确答案:D -
第6题：
电涡流效应中，线圈阻抗的变化与（）有关。
- A、线圈和金属板间距离；
- B、被测物的材料；
- C、涡流的大小；
- D、线圈所通电流的大小
正确答案:A -
第7题：
电涡流传感器产生的电涡流在周围产生一个电涡流磁场，其方向和原线圈磁场的方向相反，这两个磁场叠加，将改变原线圈的阻抗。
正确答案:正确 -
第8题：
问答题简述涡流效应并说出涡流传感器高频线圈的等效阻抗Z的影响因素。正确答案： 涡电流效应：金属板置于一个线圈附近，相互间距为δ，当线圈中有高频交变电流i通过时，产生交变磁通φ，此磁通通过邻近金属板，金属板表层产生感应电流，称为涡电流或涡流。
涡流传感器的高频线圈等效阻抗与金属板的电阻率、磁导率、线圈的激磁频率及线圈与金属板的距离等有关。解析： 暂无解析 -
第9题：
单选题下列哪一种情况下，涡流检测线圈的阻抗会增加？（）A检测频率增加
B线圈感抗减少
C线圈电感减少
D线圈电阻减少
正确答案： C解析： 暂无解析 -
第10题：
填空题涡流传感器的高频线圈等效阻抗与金属板的（）、（）、（）及（）等有关。正确答案： 电阻率,磁导率,线圈的激磁频率,线圈与金属板的距离解析： 暂无解析 -
第11题：
问答题简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？正确答案： 涡流检测时，影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμ
相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。解析： 暂无解析 -
第12题：
判断题电涡流传感器产生的电涡流在周围产生一个电涡流磁场，其方向和原线圈磁场的方向相反，这两个磁场叠加，将改变原线圈的阻抗。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析 -
第13题：
涡流试验时，被检材料的变量可以作为哪一种变化量来检测？（）
- A、试验速度；
- B、传感线圈的阻抗；
- C、以上都不是；
- D、以上都是.
正确答案:B -
第14题：
下列哪一种情况下，涡流检测线圈的阻抗会增加？（）
- A、检测频率增加
- B、线圈感抗减少
- C、线圈电感减少
- D、线圈电阻减少
正确答案:A -
第15题：
涡流探伤仪检测线圈直接影响到检测结果，主要体现在哪些方面？
正确答案: 1）检测线圈的磁场分布；
2）检测线圈的电感和感抗；
3）检测线圈的提离效应和填充系数；
4）检测线全队各种缺陷和各种材料特性变化的相应。 -
第16题：
涡流检测中，试验线圈阻抗增加是（）造成的。
- A、频率增加
- B、电阻增加
- C、电流增加
- D、电感增加
正确答案:A -
第17题：
进行涡流检测时，根据下列（）种参数的变化可检出试件表面缺陷？
- A、检测线圈的阻抗
- B、激励信号的频率
- C、检测线圈的电压
- D、A或C
正确答案:D -
第18题：
什么是电涡流效应？涡流的分布如何？为了有较好的线性，测位移时对激励线圈有何要求？电涡流传感器可以进行哪些非电量参数测量？
正确答案: 一个块状金属导体置于变化的磁场中或在磁场中切割磁力线运动时，导体内部会产生闭合的电流，这种现象称为电涡流效应。
范围：径向：线圈外径金属涡流密度最大，线圈中心为零。轴向：只在表面薄层。
非接触式测量：位移、振动、转速、厚度、材料、温度、电涡流探伤。 -
第19题：
电涡流传感器的探头线圈，与被测导体之间的距离，（）。
- A、很小时，电涡流效应显著，线圈阻抗减小
- B、很大时，因电涡流减弱，线圈阻抗增大
- C、超过一定数值后，线圈阻抗趋向一稳定值
- D、在一定范围内，线圈阻抗呈线性变化
正确答案:A,B,C -
第20题：
单选题涡流试验时，被检材料的变量可以作为哪一种变化量来检测？（）A试验速度；
B传感线圈的阻抗；
C以上都不是；
D以上都是.
正确答案： D解析： 暂无解析 -
第21题：
填空题影响涡流检测的三个主要因素是被检材料的（）、（）、（）。正确答案： 电导率,磁导率,几何形状解析： 暂无解析 -
第22题：
单选题进行涡流检测时，根据下列（）种参数的变化可检出试件表面缺陷？A检测线圈的阻抗
B激励信号的频率
C检测线圈的电压
DA或C
正确答案： D解析： 暂无解析 -
第23题：
单选题电涡流式压力传感器利用电涡流效应将压力的变化变换成线圈的（）A电阻变化
B电容变化
C阻抗变化
D电涡流变化
正确答案： B解析： 暂无解析