影响超声波检测缺陷定量的因素有（）A、仪器及探头性能的影响B、耦合与衰减的影响C、工件几何形状和尺寸的影响D、缺陷的影响

题目

影响超声波检测缺陷定量的因素有（）

  • A、仪器及探头性能的影响
  • B、耦合与衰减的影响
  • C、工件几何形状和尺寸的影响
  • D、缺陷的影响
相似考题

1.在超声波探伤中由于缺陷本身影响反射波高的因素有()。A.缺陷形状、取向和尺寸B.缺陷性质C.缺陷反射率D.上述都有

2.超声波缺陷定量

3.在超声波检测法测量缺陷大小中，将工件中的自然缺陷回波与试块上的人工缺陷回波进行比较来对缺陷定量的方法被称作当量AVG曲线法。

4.超声波探伤的缺点()A、检测结果受人为影响B、探测面状态影响检测C、工件状态影响检测结果D、定量精度差

更多“影响超声波检测缺陷定量的因素有（）”相关问题

  • 第1题：

    纵波直探头在检测工件时，有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响（）。

    • A、 影响缺陷的定量
    • B、 影响缺陷的定位
    • C、 影响缺陷的定量 、定位
    • D、 检测结果评级的影响

    正确答案:C

  • 第2题：

    目前在工业超声波检测中，对缺陷的定量方法很多，其中哪些属于常用的定量方法（）

    • A、估测法
    • B、当量法
    • C、底波高度法
    • D、测长法

    正确答案:B,C,D

  • 第3题：

    非记录性超声波检测仪器对缺陷检测的定性和定量都比TOFD技术强（）


    正确答案:错误

  • 第4题：

    下列哪种检测方法不受缺陷方向的影响（）

    • A、渗透检测
    • B、磁粉检测
    • C、射线检测
    • D、超声波检测

    正确答案:A

  • 第5题：

    影响缺陷定量的因素有哪些？


    正确答案: 1）仪器及探头性能的影响：
    1.1频率的影响；
    1.2衰减器精度和垂直线性的影响；
    1.3探头形式和晶片尺寸的影响。
    2）耦合和衰减的影响。
    3）试件几何形状和尺寸的影响
    4）缺陷的影响：
    4.1缺陷形状；
    4.2缺陷方位；
    4.3缺陷波的指向性；
    4.4缺陷表面粗糙度的影响；
    4.5缺陷性质的影响；
    4.6缺陷位置的影响；

  • 第6题：

    在超声波探伤中由于缺陷本身影响反射波高的因素有（）

    • A、缺陷形状、取向和尺寸
    • B、缺陷性质
    • C、缺陷反射率
    • D、上述都有

    正确答案:D

  • 第7题：

    多选题
    超声波检测中，缺陷定量包括确定缺陷的（）
    A

    大小

    B

    位置

    C

    深度

    D

    数量


    正确答案： B,A
    解析： 暂无解析

  • 第8题：

    多选题
    影响超声波检测缺陷定量的因素有（）
    A

    仪器及探头性能的影响

    B

    耦合与衰减的影响

    C

    工件几何形状和尺寸的影响

    D

    缺陷的影响


    正确答案： A,B
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    判断题
    非记录性超声波检测仪器对缺陷检测的定性和定量都比TOFD技术强（）
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    问答题
    在超声波探伤中，缺陷自身影响缺陷回波高度的因素有哪些？

    正确答案： 缺陷形状、缺陷所处的方位及指向性、缺陷的表面粗糙度、缺陷大小、缺陷性质。
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    问答题
    超声波探伤时，影响缺陷反射波波高的因素有哪些？

    正确答案： 影响缺陷波高的多种因素，归纳起来有以下几个方面：
    （1）缺陷本身的大小、形状、取向、表面状态、性质及缺陷的位置。
    （2）仪器和探头的特性及他们之间的连接和匹配。
    （3）探测面的形状、粗糙度及工件的组织结构等。
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    下列哪种检测方法不受缺陷方向的影响（）
    A

    渗透检测

    B

    磁粉检测

    C

    射线检测

    D

    超声波检测


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    超声波探伤时，影响缺陷反射波波高的因素有哪些？


    正确答案: 影响缺陷波高的多种因素，归纳起来有以下几个方面：
    （1）缺陷本身的大小、形状、取向、表面状态、性质及缺陷的位置。
    （2）仪器和探头的特性及他们之间的连接和匹配。
    （3）探测面的形状、粗糙度及工件的组织结构等。

  • 第14题：

    超声波检测中，缺陷定量包括确定缺陷的（）

    • A、大小
    • B、位置
    • C、深度
    • D、数量

    正确答案:A,D

  • 第15题：

    在下列哪种检测方法中，对缺陷的定量评价受时间因素的影响较大（）

    • A、渗透检测
    • B、磁粉检测
    • C、射线检测
    • D、超声波检测

    正确答案:A

  • 第16题：

    利用A型脉冲反射式超声波探伤仪对缺陷定位时，影响缺陷定位的主要因素有（）。

    • A、仪器和探头
    • B、操作人员的影响
    • C、工件的影响
    • D、耦合剂的影响

    正确答案:D

  • 第17题：

    简述超声检测中影响缺陷定位的主要因素有哪些？


    正确答案: 1）仪器的影响：主要是仪器水平线性的影响；
    2）探头的影响：包括声束偏离、探头双峰、探头斜契磨损、探头指向性的影响；
    3）工件的影响：包括工件表面粗糙度、工件材质、工件表面形状、工件边界、工件温度、工件中缺陷情况的影响；
    4）操作人员的影响：包括仪器时基线比例、入射点、K值、定位方法不当的影响。

  • 第18题：

    在超声波探伤中，缺陷自身影响缺陷回波高度的因素有哪些？


    正确答案:缺陷自身影响缺陷回波高度的因素有：缺陷形状、缺陷所处方位及其指向性、缺陷表面粗糙度、缺陷大小、缺陷性质。

  • 第19题：

    判断题
    在超声波检测法测量缺陷大小中，将工件中的自然缺陷回波与试块上的人工缺陷回波进行比较来对缺陷定量的方法被称作当量AVG曲线法。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    单选题
    纵波直探头在检测工件时，有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响（）。
    A

     影响缺陷的定量

    B

     影响缺陷的定位

    C

     影响缺陷的定量 、定位

    D

     检测结果评级的影响


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    在超声波探伤中由于缺陷本身影响反射波高的因素有（）
    A

    缺陷形状、取向和尺寸

    B

    缺陷性质

    C

    缺陷反射率

    D

    上述都有


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    在下列哪种检测方法中，对缺陷的定量评价受时间因素的影响较大（）
    A

    渗透检测

    B

    磁粉检测

    C

    射线检测

    D

    超声波检测


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    多选题
    目前在工业超声波检测中，对缺陷的定量方法很多，其中哪些属于常用的定量方法（）
    A

    估测法

    B

    当量法

    C

    底波高度法

    D

    测长法


    正确答案： B,A
    解析： 暂无解析

相关内容