靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有（）A、声束扩散B、材质衰减C、仪器阻塞效应D、折射

题目

靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有（）

  • A、声束扩散
  • B、材质衰减
  • C、仪器阻塞效应
  • D、折射
相似考题

1.通常超声声束的强度在聚焦区较大，因为()。A、衰减减少B、声束直径变小C、衍射效应D、声束直径变大E、增益可调整

2.衰减的原因主要有A．吸收B．散射C．声束扩散D．热效应E．生物学效应

3.超声在人体软组织衰减的主要因素是A、反射B、折射C、声束扩散D、胶原蛋白含量E、钙的沉淀

4.可通过什么方式减少声束在远场的扩散()。A、使用凸面探头B、使用大直径的探头C、在近场减少声束强度D、使用低频探E、加大增益

更多“靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有（）A、声束扩散B、材质衰减C、仪器阻塞效应D、折射”相关问题

  • 第1题：

    由于声束扩散原因引起的声衰减，可以克服的方法是

    A、降低帧频

    B、提高帧频

    C、变换探头频率

    D、声束聚焦

    E、降低探头频率


    参考答案：D

  • 第2题：

    超声在介质中传播过程中，声能发生衰减的原因主要有

    A、反射、吸收、散射、折射、声束扩散

    B、吸收、散射、折射、声束扩散

    C、反射、散射、折射、声束扩散

    D、反射、散射、折射

    E、吸收、散射、声束扩散


    参考答案：E

  • 第3题：

    由于声束扩散原因引起的声衰减，可以克服的方法是

    A.降低帧频
    B.变换探头频率
    C.降低探头频率
    D.提高帧频
    E.声束聚焦

    答案：E
    解析：

  • 第4题：

    单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）

    • A、近场干扰
    • B、材质衰减
    • C、盲区
    • D、折射

    正确答案:C

  • 第5题：

    衰减的原因主要有（）。

    • A、吸收
    • B、散射
    • C、声束扩散
    • D、热效应
    • E、生物学效应

    正确答案:A,B,C

  • 第6题：

    探头晶片面积相同，高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。


    正确答案:错误

  • 第7题：

    70°探头探测钢轨伤损时，回波有位移是因为（）。

    • A、声程不同
    • B、声束扩散
    • C、探头位移
    • D、频率变化

    正确答案:A

  • 第8题：

    单选题
    测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：（）
    A

    声束扩散损失

    B

    耦合损耗

    C

    工件几何形状影响

    D

    以上都是


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到，因为（）。
    A

    声束扩散

    B

    材质衰减

    C

    仪器阻塞效应

    D

    折射


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    70°探头探测钢轨伤损时，回波有位移是因为（）。
    A

    声程不同

    B

    声束扩散

    C

    探头位移

    D

    频率变化


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有（）
    A

    声束扩散

    B

    材质衰减

    C

    仪器阻塞效应

    D

    折射


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    填空题
    靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为超声波检测仪器存在有仪器（）效应

    正确答案： 阻塞
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到，因为（ ）。

    A.声束扩散

    B.材质衰减

    C.仪器阻塞效应

    D.折射


    正确答案：C

  • 第14题：

    靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为有()

    A.声束扩散
    B.材质衰减
    C.仪器阻塞效应
    D.折射

    答案：C
    解析：

  • 第15题：

    测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：（）

    • A、声束扩散损失
    • B、耦合损耗
    • C、工件几何形状影响
    • D、以上都是

    正确答案:D

  • 第16题：

    靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为超声波检测仪器存在有仪器（）效应


    正确答案:阻塞

  • 第17题：

    靠近探头的长条形缺陷并不一定都能探测到，因为（）。

    • A、声束扩散
    • B、材质衰减
    • C、仪器阻塞效应
    • D、折射

    正确答案:C

  • 第18题：

    靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到，因为（）。

    • A、声束扩散
    • B、材质衰减
    • C、仪器阻塞效应
    • D、折射

    正确答案:C

  • 第19题：

    靠近滩头的长条形缺陷并不一定都能检测到，是应为（）。


    正确答案:仪器的阻塞效应

  • 第20题：

    单选题
    由于声束扩散原因引起的声衰减，可以使用（　　）方法克服。
    A

    降低帧频

    B

    增加帧频

    C

    增加探头频率

    D

    声束聚焦

    E

    降低探头频率


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）
    A

    近场干扰

    B

    材质衰减

    C

    盲区

    D

    折射


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    填空题
    靠近滩头的长条形缺陷并不一定都能检测到，是应为（）。

    正确答案： 仪器的阻塞效应
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    多选题
    衰减的原因主要有（）。
    A

    吸收

    B

    散射

    C

    声束扩散

    D

    热效应

    E

    生物学效应


    正确答案： C,B
    解析： 衰减的原因包括吸收、散射、声束扩散等。

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