测头离导电基体越近，涡流越大，反射阻抗越大，利用这个原理测量覆层厚度的是（）A、电涡流测量B、磁感应测量C、磁吸力测量D、库伦法

题目

测头离导电基体越近，涡流越大，反射阻抗越大，利用这个原理测量覆层厚度的是（）

  • A、电涡流测量
  • B、磁感应测量
  • C、磁吸力测量
  • D、库伦法
相似考题

1.电涡流测厚仪用于测量非磁性金属基体上的涂层厚度。

2.钢铁基体上的非导电体覆层的厚度使用电涡流测厚法更为合适。

3.电涡流传感器是利用（）材料的电涡流效应工作，可分为低频透射式和高频反射式两种，其中前者常用于材料厚度的测量。

4.测量轴承振动的探头采用（）原理工作。A差动感应；B涡流效应；C差动磁敏；D电磁感应。

更多“测头离导电基体越近，涡流越大，反射阻抗越大，利用这个原理测量覆层厚度的是（）A、电涡流测量B、磁感应测量C、磁吸力测量D、库伦法”相关问题

  • 第1题：

    利用磁感应测量覆盖层厚度的原理是利用测头经过非铁磁覆盖层而流入铁磁基体的磁通量大小来测定覆盖层厚度的。


    正确答案:正确

  • 第2题：

    磁感应原理，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的（）大小，也可测定与之对应的（）的大小，来表示覆层厚度。


    正确答案:磁通；磁阻

  • 第3题：

    采用电涡流原理的镀层测厚仪，原则上对所有导电基体上的非导电体覆层均可测量。若覆层材料有一定的导电性，通过校准也可测量，但要求基体与覆层的导电率之比相差（）倍。

    • A、1—2
    • B、2—3
    • C、3—5
    • D、5—8

    正确答案:C

  • 第4题：

    涡流导电仪能用来测量金属基体表面绝缘膜层厚度吗？为什么？


    正确答案: 不能，测量金属基体表面绝缘膜层厚度是利用检测线圈的提离效应，而涡流导电仪必须设置提离拟制电路，以消除在测量导电材料电导率中提离不应引起的干扰。

  • 第5题：

    利用磁吸力测量覆盖层厚度的原理是永久磁铁（测头）与导磁材料之间的吸引力大小与处于两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆盖层的厚度。


    正确答案:正确

  • 第6题：

    电涡流式传感器是利用（）效应，将非电量转换为阻抗的变化进行测量的。

    • A、电磁感应
    • B、涡流效应
    • C、热电效应
    • D、压电效应

    正确答案:B

  • 第7题：

    非接触式测量轴承振动的探头是利用（）原理工作的。

    • A、差动感应
    • B、涡流效应
    • C、差动磁效
    • D、电磁感应

    正确答案:B

  • 第8题：

    判断题
    利用磁感应测量覆盖层厚度的原理是利用测头经过非铁磁覆盖层而流入铁磁基体的磁通量大小来测定覆盖层厚度的。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    用涡流法测量非金属涂层厚度的机理是（）。
    A

    末端效应

    B

    速度效应

    C

    涡流热效应

    D

    提离效应


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    判断题
    钢铁基体上的非导电体覆层的厚度使用电涡流测厚法更为合适。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    （）是利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。
    A

    磁感应测量方法

    B

    磁吸力测量方法

    C

    电涡流测量方法

    D

    库伦法


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    问答题
    涡流导电仪能用来测量金属基体表面绝缘膜层厚度吗？为什么？

    正确答案： 不能，测量金属基体表面绝缘膜层厚度是利用检测线圈的提离效应，而涡流导电仪必须设置提离拟制电路，以消除在测量导电材料电导率中提离不应引起的干扰。
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    镀层厚度测量，电涡流法与磁感应法比较，主要区别是（）

    • A、测头不同
    • B、信号的频率不同
    • C、信号的大小不同
    • D、信号的标度关系不同

    正确答案:A,B,C,D

  • 第14题：

    （）是利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。

    • A、磁感应测量方法
    • B、磁吸力测量方法
    • C、电涡流测量方法
    • D、库伦法

    正确答案:A

  • 第15题：

    涡流导电仪能用于膜层厚度测量吗？为什么？


    正确答案: 不能，测量基体金属表面膜层厚度的原理是利用提离效应，而涡流导电仪中为了测量的可靠、准确，设置了提离效应拟制电路。

  • 第16题：

    涡流涂层厚度测量仪可用来测量（）.

    • A、导电基体上的非导电涂层
    • B、导磁基体上的非磁性涂层
    • C、铝合金上的氧化膜
    • D、以上都可以

    正确答案:D

  • 第17题：

    用涡流法测量非金属涂层厚度的机理是（）。

    • A、末端效应
    • B、速度效应
    • C、涡流热效应
    • D、提离效应

    正确答案:D

  • 第18题：

    何谓电涡流效应？怎样利用电涡流效应进行位移测量？


    正确答案: 电涡流效应指的是这样一种现象：根据法拉第电磁感应定律，块状金属导体置于变化的磁场中或在磁场中作切割磁力线运动时，通过导体的磁通将发生变化，产生感应电动势，该电动势在导体内产生电流，并形成闭合曲线，状似水中的涡流，通常称为电涡流。
    利用电涡流效应测量位移时，可使被测物的电阻率、磁导率、线圈与被测物的尺寸因子、线圈中激磁电流的频率保持不变，而只改变线圈与导体间的距离，这样测出的传感器线圈的阻抗变化，可以反应被测物位移的变化。

  • 第19题：

    单选题
    测头离导电基体越近，涡流越大，反射阻抗越大，利用这个原理测量覆层厚度的是（）
    A

    电涡流测量

    B

    磁感应测量

    C

    磁吸力测量

    D

    库伦法


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    单选题
    采用电涡流原理的镀层测厚仪，原则上对所有导电基体上的非导电体覆层均可测量。若覆层材料有一定的导电性，通过校准也可测量，但要求基体与覆层的导电率之比相差（）倍。
    A

    1—2

    B

    2—3

    C

    3—5

    D

    5—8


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    多选题
    镀层厚度测量，电涡流法与磁感应法比较，主要区别是（）
    A

    测头不同

    B

    信号的频率不同

    C

    信号的大小不同

    D

    信号的标度关系不同


    正确答案： C,A
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    涡流涂层厚度测量仪可用来测量（）.
    A

    导电基体上的非导电涂层

    B

    导磁基体上的非磁性涂层

    C

    铝合金上的氧化膜

    D

    以上都可以


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    填空题
    磁感应原理，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的（）大小，也可测定与之对应的（）的大小，来表示覆层厚度。

    正确答案： 磁通,磁阻
    解析： 暂无解析

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