扫描电镜中做形貌观察主要是用（）和（），扫描电镜若带有能谱（E.D.S）则可运用特征X射线做（）。

题目

扫描电镜中做形貌观察主要是用（）和（），扫描电镜若带有能谱（E.D.S）则可运用特征X射线做（）。

相似考题

1.对样品进行表面形貌分析时应使用()。A、X射线衍射(XRD)B、透射电镜(TEM)C、扫描电镜(SEM)

2.SEM法又称为扫描电镜形貌分析法，属于相对测年法，所测样品为断层泥中的( )。A.方解石 B.斜长石 C.角闪布 D.石英

3.为什么透射电镜和扫描电镜对样品厚度与大小的要求有如此大的差异？能否用扫描电镜来观察样品的内部结构，而用透射电镜来观察样品的表面结构？

4.扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。()

参考答案和解析
正确答案:二次电子，背散射电子，成分分析
更多“扫描电镜中做形貌观察主要是用（）和（），扫描电镜若带有能谱（E.”相关问题

  • 第1题：

    将试验机夹头部分推入扫描电镜的电子腔中时，需要注意（）。

    • A、不要用力过大、过猛
    • B、限位销将试验机定位，使试件在扫描电镜的观察区域内
    • C、小心试验机夹头撞到电子腔的其它部件

    正确答案:A,B,C

  • 第2题：

    扫描电镜中观察到的断口形貌有什么特点？


    正确答案:扫描电镜中观察到的是金属断口的本身，故形貌逼真，假象少，且可从低倍（10倍左右）到高倍（20万倍）连续观察。又可对断口上的微区进行化学成分分析。

  • 第3题：

    扫描电镜由（）、（）、（）、（）、（）（）组成。


    正确答案:光学系统，扫描系统，信号检测放大系统，图象显示和记录系统，真空系统，电源系统

  • 第4题：

    关于冷冻割断技术，下列哪项有误（）

    • A、用该技术所制标本可在扫描电镜下观察细胞的内部构造
    • B、生物样品在割断前须经固定和液氮的快速冷冻处理
    • C、是电镜样品制备技术的一种
    • D、细胞经割断后可直接在扫描电镜下观察
    • E、可获得细胞内各种细胞器的立体形貌

    正确答案:D

  • 第5题：

    SEM法又称为扫描电镜形貌分析法，属于相对测年法，所测样品为断层泥中的（）。

    • A、方解石
    • B、斜长石
    • C、角闪布
    • D、石英

    正确答案:D

  • 第6题：

    下列用于确定成藏时间的储层测试分析技术是（）

    • A、流体包裹体分析
    • B、荧光显微镜彩色图像分析
    • C、扫描电镜能谱图像分析
    • D、有机岩石学分析

    正确答案:C

  • 第7题：

    单选题
    SEM法又称为扫描电镜形貌分析法，属于相对测年法，所测样品为断层泥中的（　　）。
    A

    方解石

    B

    斜长石

    C

    角闪布

    D

    石英碎砾


    正确答案： A
    解析：
    石英颗粒表面显微观测法又称为扫描电镜形貌分析法（SEM法），属于相对测年方法，所测样品为断层泥中的石英碎砾。断层泥中的主要成分为碎砾和黏土矿物，碎砾主要是石英和其他矿物及原岩碎屑，其中石英是稳定的矿物，形成后不会风化变质为其他矿物，而因溶蚀程度的不同表现出不同的溶蚀类型。同时，石英碎砾的溶蚀程度与时间是相关的，可在经验上和统计上得到不同时期形成的石英碎砾的溶蚀特征分布。这样，对比所测样品中石英碎砾的溶蚀类型和所占的比例就可以得到样品形成的地质时期。

  • 第8题：

    单选题
    扫描电镜的衬度不包括（）
    A

    形貌衬度

    B

    原子序数衬度

    C

    电压衬度

    D

    相位衬度


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    问答题
    指出下列叙述中的错误，并予以改正：“对材料AmBn的研究方法是：用X射线衍射仪器对材料进行含量及显微组织形貌的测定；用扫描电镜对材料进行物相分析，确定其晶体学参数；用透射电镜对材料界面、结合组态进行测试分析”。

    正确答案： X.射线衍射仪可以对材料进行物相分析，确定其晶体学参数，但无法对材料进行含量及显微组织形貌的测定；扫描电镜可以测定材料的显微组织形貌，但无法进行物相分析；透射电镜可以对材料的界面进行分析，但无法对材料的结合组态进行测试分析。
    改正：对材料AmBn的研究方法是：用扫面电镜并配上能谱仪对材料进行含量及显微组织形貌的测定；用X射线衍射仪对材料进行物相分析，确定其晶体学参数；用透射电镜对材料界面进行测试分析；采用X射线光电子能谱分析法对材料的结合组态进行测试分析。
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    填空题
    扫描电镜术观察到的是（），透射电镜技术观察到的是（）。

    正确答案： 物体表面的立体结构,细胞内较细微的结构
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    关于冷冻割断技术，下列哪项有误（）
    A

    用该技术所制标本可在扫描电镜下观察细胞的内部构造

    B

    生物样品在割断前须经固定和液氮的快速冷冻处理

    C

    是电镜样品制备技术的一种

    D

    细胞经割断后可直接在扫描电镜下观察

    E

    可获得细胞内各种细胞器的立体形貌


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    判断题
    人眼可直接通过扫描电镜的目镜观察到图像。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    扫描电镜的主要作用是进行显微形貌分析和确定成分分布。（）


    正确答案:正确

  • 第14题：

    人眼可直接通过扫描电镜的目镜观察到图像。


    正确答案:正确

  • 第15题：

    使用免疫荧光显微镜观察细胞结构需要（）

    • A、特异的抗体
    • B、扫描电镜
    • C、带有一定波长过虑镜片的光镜
    • D、荧光试剂
    • E、透射电镜

    正确答案:A,C,D

  • 第16题：

    扫描电镜术观察到的是（），透射电镜技术观察到的是（）。


    正确答案:物体表面的立体结构；细胞内较细微的结构

  • 第17题：

    射击残留物目前最具有特效性的检验方法是用扫描电镜/能谱技术检验底火残留物颗粒。（）


    正确答案:正确

  • 第18题：

    用扫描电镜对样品或试件进行观察时，样品需要做的处理有（）。

    • A、清洗样品
    • B、不导电的样品和试件需要喷镀金膜
    • C、样品和试件处理好以后勿用手再触摸

    正确答案:A,B,C

  • 第19题：

    单选题
    SEM法又称为扫描电镜形貌分析法，属于相对测年法，所测样品为断层泥中的（）。
    A

    方解石

    B

    斜长石

    C

    角闪布

    D

    石英


    正确答案： C
    解析： 断层泥中的主要成分为碎砾和黏土矿物，碎砾主要是石英和其他矿物及原岩碎屑，其中石英是稳定的矿物，形成后不会风化变质为其他矿物，而因溶蚀程度的不同表现出不同的溶蚀类型。同时，石英碎砾的溶蚀程度与时间是相关的，可在经验上和统计上得到不同时期形成的石英碎砾的溶蚀特征分布。这样，对比所测样品中石英碎砾的溶蚀类型和所占的比例就可以得到样品形成的地质时期。

  • 第20题：

    问答题
    请简述透射电镜与扫描电镜进行形貌成像时的差别。

    正确答案： 透射电镜不仅能在物镜后焦平面上获得衍射花样，而且能在像平面上获得组织形貌像的方法。衍射像主要取决于入射电子束与样品内各晶面相对取向不同所导致的衍射强度差异。如果只让透射束通过物镜光阑成像，那么就会由于样品中各晶面或强衍射或弱衍射或不衍射，导致透射束相应强度的变化，从而在荧光屏上形成衬度。
    扫描电镜的像衬度主要是利用样品表面微观特征的差异，在电子束作用下产生不同强度的物理信号，导致阴极射线管荧光屏上不同的区域不同的亮度差异，从而获得具有一定衬度的图像。
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    多选题
    将试验机夹头部分推入扫描电镜的电子腔中时，需要注意（）。
    A

    不要用力过大、过猛

    B

    限位销将试验机定位，使试件在扫描电镜的观察区域内

    C

    小心试验机夹头撞到电子腔的其它部件


    正确答案： C,B
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    多选题
    在扫描电镜分析中（）
    A

    成分像能反映成分分布信息，形貌像和二次电子像反映形貌信息

    B

    所有扫描电镜像，只能反映形貌信息

    C

    形貌像中凸尖和台阶边缘处最亮，平坦和凹谷处最暗

    D

    扫描电镜分辨率比透射电镜高


    正确答案： C,D
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    表面形貌分析的手段包括（）
    A

    X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）

    B

    SEM和透射电镜（TEM）

    C

    波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS）

    D

    扫描隧道显微镜（STM）和SEM


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

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